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Data download低阻抗分析儀 表面低阻抗測定儀 三菱化學(xué)阻率計
型號:SN/MCP-T370
特點:
MCP-T370四探針恒定電流測試原理;
一觸式高精度測量各種材料的表面電阻率。
查找只需按下啟動按鈕,確認(rèn)自動測量功能,可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。
檢查探頭校準(zhǔn)片(另售),以確認(rèn)Roresuta-AX(MCP-T370)測試值的準(zhǔn)確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器
可配置多種探頭測量低阻抗
MCP 探頭
• 一次接觸樣品,即可完成測量
• 內(nèi)置電流鈹銅鍍金高質(zhì)量探針,壓力恒定
• 定內(nèi)阻和導(dǎo)線阻抗已經(jīng)消除
應(yīng)用范圍:
導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷,光伏行業(yè)等。
應(yīng)用于低阻抗測量范圍,帶 4 針探頭
測量范圍:1.999*(10-2 ~ 106)Ω 三種單位互轉(zhuǎn):Ω、Ω/口、Ω.cm
用途
工業(yè)生產(chǎn)、質(zhì)量控制、研發(fā)
選項 |
探頭選項 | ||
類型 | 適用被測試樣品 | 型號 |
ESP | 對于異類樣本 | MCP - TP08P |
PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
QPP | 對于小樣本 | MCP - TPQPP |
TFP | 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
校準(zhǔn)塊 | 型號:MCP - TRF1 |